NEK IEC 62374:2007
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 468 kr | Kan kjøpes |
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 468 kr | Kan kjøpes |