NEK IEC 60749-16:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 344 kr | Kan kjøpes |