NEK EN IEC 60749-23:2026
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 26. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 687 kr | Kan kjøpes |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 26. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 687 kr | Kan kjøpes |