ISO 14706:2014

Name: ISO 14706:2014
SKU: ISO-14706-2014
Availability: InStock

Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

standard.no

Prishistorikk

Perioder

Fra	Til	Abonnement	Engangskjøp	Status
26. mai 2026	27. mai 2026	Ikke tilgjengelig	2 537 kr	Kan kjøpes
27. mai 2026	Nåværende	Ikke tilgjengelig	2 534 kr	Kan kjøpes