IEC 60749-41:2020 ED1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 26. mai 2026 | 27. mai 2026 | Ikke tilgjengelig | 2 268 kr | Kan kjøpes |
| 27. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 266 kr | Kan kjøpes |